電滲析工藝進(jìn)水鈣離子究竟要控制在多少以下呢,？
中水回用,、廢水零排放中,，廢水的濃縮減量，往往會涉及到鈣鹽的結(jié)垢問題,。
針對于電滲析工藝,，進(jìn)水鈣離子究竟要控制在多少以下呢？
以硫酸鈣系統(tǒng)為例：
資料01 硫酸鈣的結(jié)垢
在工業(yè)廢水的處理中,，碳酸鹽、磷酸鹽、硫酸鹽都是比較常見的結(jié)垢成分,，碳酸鹽和磷酸鹽一定程度上可以通過酸來調(diào)控,，而硫酸鈣垢往往致密堅(jiān)硬且酸堿難溶，在膜濃縮過程中很不受待見,。
最常規(guī)理解：如果系統(tǒng)產(chǎn)生硫酸鈣結(jié)垢,，廢水中其硫酸鈣溶液濃度已過飽和。在這類系統(tǒng)的測算中,，免不了需要了解物質(zhì)的溶解度及其影響因素,。
結(jié)晶過程的產(chǎn)生取決于固體與其溶液之間的平衡關(guān)系，溶質(zhì)從溶液中結(jié)晶出來,，正常都涉及到兩個過程：晶核的產(chǎn)生和晶體的生長,。溶液的過飽和度與結(jié)晶存在以下的關(guān)系：
曲線B：物質(zhì)溶解度曲線；B曲線以下,，屬于穩(wěn)定區(qū),，不存在結(jié)晶問題。
曲線A：超溶解度曲線,；A曲線以上,，屬于不穩(wěn)定區(qū)，溶液能自發(fā)的產(chǎn)生晶核,，并伴隨晶體生長,。
曲線A和B之間其實(shí)還存在一個介穩(wěn)區(qū)，溶液也處于過飽和狀態(tài),，但是由于無法自發(fā)形成晶核,，所以還不會產(chǎn)生晶體。
不難理解,，B曲線很容易得到,，那A曲線可以怎么得到呢？按我的理解,，上圖可以給我們一些答案：B曲線條件下,，緩慢降低溫度，有晶體析出時,，即可找到對應(yīng)的A曲線對應(yīng)的點(diǎn),。
在實(shí)際過程中，超溶解度曲線的繪制往往會更加復(fù)雜一些,?；谶@些特點(diǎn)，電滲析系統(tǒng)中硫酸鈣的結(jié)垢問題是否也需要多角度考慮,？
綜合膜行業(yè)朋友的各類反饋：超溶解度曲線對ED而言,，意義不明顯,，目前均以B曲線參考為主，測算硫酸鈣的溶度積,。
部分可參考性解釋如下：1.介穩(wěn)區(qū)的區(qū)間有限,，電滲析存在溫升，無法實(shí)現(xiàn)精度控制,，而且也沒有必要,；2. 電滲析遷移過程，膜表面與隔室間溶液存在濃度差,，并非一個完全均一的溶液系統(tǒng),；3. 電滲析存在倒極功能，一定條件下的高頻電場可以產(chǎn)生靜電斥力,、抑制晶體生長速率,；4.工業(yè)水硫酸鹽系統(tǒng)大多為混鹽，無法得到唯一的參考曲線,。
資料02 幾個重要的概念
在進(jìn)行硫酸鈣系統(tǒng)沉淀,、溶解等平衡測算時，主要涉及到混合溶液中其它離子對溶解度的影響,，這里需要重新回憶大學(xué)無機(jī)化學(xué)的幾個概念：
離子活度：離子實(shí)際發(fā)揮作用的濃度稱為有效濃度,，或稱為活度。即有時候結(jié)垢的陰陽離子沒有想象的那么容易“碰面”,。
離子強(qiáng)度：離子強(qiáng)度是衡量溶液中存在離子所產(chǎn)生的電場強(qiáng)度的量度,，水溶液中電解質(zhì)的濃度會影響到其他鹽類的溶解度，而影響的強(qiáng)弱程度就稱為離子強(qiáng)度,。
離子積和溶度積常數(shù)：前者大,，析出沉淀；后者大,，無沉淀析出,；兩者相等，溶液飽和,。
測算時,，可參考的公式如下：
其中硫酸鈣在25℃條件下，溶度積KSP'常數(shù)與離子強(qiáng)度的參考曲線：
雖然上述3.2德拜-休克爾公式有應(yīng)用前提條件,，但以公式為基礎(chǔ),，硫酸鈣的KSP'常數(shù)與離子強(qiáng)度的關(guān)系曲線就不難理解。在低濃度時,，溶解度隨離子強(qiáng)度增大,，活度系數(shù)降低，故而硫酸鈣溶解度增加,，在高鹽濃度況下,，硫酸鈣形成離子對,，短程靜電相互作用增強(qiáng)，使溶解度降低,。
在實(shí)際的ED工藝測算中,，含硫酸鈣的廢水系統(tǒng)，測算過程相對簡單化：1. 根據(jù)工藝要求,，設(shè)定濃縮倍數(shù)，測算出濃水水質(zhì),；2. 以濃水?dāng)?shù)據(jù),，測算出系統(tǒng)的濃水離子強(qiáng)度,；3. 以離子強(qiáng)度數(shù)據(jù)為基礎(chǔ),，根據(jù)曲線得到濃水硫酸鈣的KSP'常數(shù)；3. 根據(jù)離子濃度,，計(jì)算出硫酸鈣的離子積常數(shù),；4. 基于上述參數(shù)，核對工藝參數(shù)設(shè)定是否合理?進(jìn)水Ca離子是否滿足要求,？
資料03 案例測算說明
(1) 電滲析初步按濃水TDS=180g/L考慮,，濃縮倍數(shù)約5.47倍；
(2) 測算出此條件下的濃水水質(zhì),，再求離子強(qiáng)度=2.88mol/L（按公式3.3計(jì)算即可）,；
(3) 得到濃水硫酸鈣KSP'常數(shù)=31.2*10^(-4），查圖即可,；
(4) 濃水硫酸鈣離子積常數(shù)=4.67*10^(-4）,，按公式計(jì)算；
(5) 為了提高穩(wěn)定性,，濃水最終按0.8ksp'考慮,；
(6) 即滿足濃水離子積常數(shù)＜0.8濃水KSP'常數(shù)，系統(tǒng)結(jié)垢風(fēng)險(xiǎn)極低,。
一套流程下來,，測算的過程是否與RO設(shè)計(jì)思路類似？
顯然在這類系統(tǒng)中,，前期的評估我們更多地只考慮了鹽效應(yīng)的影響,，硫酸鈣的結(jié)垢對電滲析而言，系統(tǒng)還可以通過添加阻垢劑,、高頻的倒極,、單價(jià)選擇膜的選型、設(shè)備的拆洗等方式進(jìn)行應(yīng)對,。此外,，由于硫酸鈣的沉淀優(yōu)先在陰膜表面產(chǎn)生,，所以陰膜性能的優(yōu)化也是一個選擇，組器的設(shè)計(jì)更是如此,。
綜合上述簡易分析,，不難理解，對于電滲析進(jìn)水鈣離子而言,，幾十ppm,、幾百ppm、幾千ppm的系統(tǒng),，也未嘗不可處理,，關(guān)鍵還是水質(zhì)特性和處理目標(biāo)。
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