�Ϸ�ِ��ԇ�(y��n)�O(sh��)�����޹�˾

    �a(ch��n)Ʒ����: ��غ��ԇ�(y��n)��,���ߵ͜�ԇ�(y��n)��,���ߵ͜؝��ԇ�(y��n)�䡢�ߵ͜ؽ�׃ԇ�(y��n)��,���ߵ͜؝��(��׃)ԇ�(y��n)�䡢�����ϻ�ԇ�(y��n)��,���_(t��i)ʽ믟��ϻ�ԇ�(y��n)��,��믻����͚��ԇ�(y��n)�䡢�����ϻ�ԇ�(y��n)��,���Q���ϻ�ԇ�(y��n)��,���ضț_��ԇ�(y��n)�䡢����ԇ�(y��n)��,���[������ԇ�(y��n)�C(j��),����ˮԇ�(y��n)�C(j��)��ɰ�mԇ�(y��n)��,�����(d��ng)ԇ�(y��n)�C(j��),���}�F���gԇ�(y��n)�䡢��������ԇ�(y��n)��,��늟��ع��L(f��ng)������,��������̼���B(y��ng)�䡢��ո�����,��������B(y��ng)��,�����B(y��ng)��������䡢��՚�������,�����P��֬ԇ�(y��n)��,���ߵ͜����(d��ng)�C��ԇ�(y��n)�䡢����ʽ�}�Fԇ�(y��n)��,������ʽ�ߵ͜�(���)ԇ�(y��n)��,������ʽ��غ��ԇ�(y��n)��

    �Ϸ�ِ��ԇ�(y��n)�O(sh��)�����޹�˾��Hefei Saifor Test Equipment Co., Ltd.��λ�ںϷ�����վ�C���_�l(f��)ԇ�(y��n)�^(q��)���ǚ��h(hu��n)��ԇ�(y��n)�O(sh��)�䌣�I(y��)������,����Ҫ���a(ch��n)��,���͜�ԇ�(y��n)�O(sh��)�䣻���ԇ�(y��n)�O(sh��)��,�����׃ԇ�(y��n)��,������ϻ�ԇ�(y��n)�䣻���gԇ�(y��n)�O(sh��)��,���������B(y��ng)��͸������Ȯa(ch��n)Ʒ,���҂����ɞ�͑��O(sh��)Ӌ(j��)�����ǘ�(bi��o)��(zh��n)�a(ch��n)Ʒ,�������ڿ͑��x�񡣮a(ch��n)Ʒ��GB,��IEC,��GJB��DIN�Ș�(bi��o)��(zh��n)������(y��ng)�ļ��g(sh��)����(sh��)���a(ch��n)��h(hu��n)��ԇ�(y��n)�O(sh��)��,��
 
   ��˾���н�(j��ng)�^��(y��n)����Ӗ(x��n),����(j��ng)�(y��n)�S���ͼ��g(sh��)��տ�Ĺ��̼��g(sh��)�ˆT��ؓ(f��)؟(z��)�O(sh��)������a(ch��n)����,���a(ch��n)Ʒ��Ҫ�����������n��TEMIϵ�У�Һ���@ʾ������ƃx�������M(j��n)�ڿ�����,������ϵ�y(t��ng)���ù�݆������ԭ�b��̩�������s�C(j��)�C(j��)�M,����˾���M(j��n)�ļӹ��O(sh��)��,����տ�Ĺ�ˇ�͇�(y��n)��Ĺ����wϵ�������ۺ�ļ��g(sh��)��(sh��)�������õ��ۺ����(w��)�M��͑�����,��
 
    �a(ch��n)Ʒ�V������(w��)�ں���,�����졢܊��,�����,��ͨӍ���C(j��)е,����܇,��Ħ��܇������,���r(n��ng)�I(y��),����򡢭h(hu��n)��,�����ĵ��I(l��ng)��,�����ڙz�(y��n)���N�a(ch��n)Ʒ���O(sh��)�䣩�����ȭh(hu��n)�����m��(y��ng)�ԣ��Y�x�����ϸ�Ļ��Н���ȱ�ݵĮa(ch��n)Ʒ,���Ķ����C���z�a(ch��n)Ʒ���O(sh��)�䣩��ʹ���^���еİ�ȫ��,���ɿ��ԡ�ِ����I(y��)��ּ���|(zh��)���A���Ј�,���\���T��Ʒ�|(zh��),����(chu��ng)��(y��u)�|(zh��)Ʒ�ƣ��Tһ����I(y��)����,��